بررسی اثر ناخالصی سریوم بر ویژگی های مغناطیسی فیلم های نازک (نانومتری) گارنت ایتریوم آهن بر بسترهای کوارتز
چکیده
در این پژوهش، لایههای نازک گارنت ایتریم آهن جانشانی شده با سریم، با فرمول عمومی cexy3-xfe5o12 و با مقادیر (7/0و5/0و3/0و1/0و0x=)، به روش سل- ژل و پوشش چرخشی (spin coating) و عملیات گرمادهی بر بسترهای کوارتز تهیه شد. نمونههای تهیه شده، برای بررسی ویژگیهای فیزیکی، مورد بررسی قرار گرفتند، اثر ناخالصی ce بر خواص ساختاری، ریختشناسی سطح فیلم و ویژگیهای مغناطیسی بهترتیب با آنالیز پراش پرتو ایکس (xrd)، میکروسکوپ نیروی اتمی (afm) و مغناطش سنج ارتعاشی (vsm) مورد بررسی قرار گرفت. تصویر میکروسکوپ نیروی اتمی(afm) نمونههای تهیه شده نشان میدهد که لایههای نازک دارای سطح پیوسته و هموار هستند.