بررسی خواص نوری، بلوری و الکتریکی لایه های شفاف و هادی al:zno
چکیده
چکیدهای برای این سند ثبت نشده است.
چکیدهای برای این سند ثبت نشده است.
چکیده : در ساخت لایه های نازک در سال های اخیر تحولات وسیعی صورت گرفته است ، که خود ناشی از پیشرفت در فناوری خلاء، تولید میکروسکوپ های الکترونی و ساخت وسایل دقیق و پیجیده ی شناسایی مواد است. مطرح شدن مباحثی نظیر میکرو الکترونیک، اپتیک و نانو فناوری مدیون اهمیت پوشش لایه های نازک م
مواد ناهمسانگرد موادی هستند که خواص نوری آنها به جهت انتشار موج و همچنین قطبش امواج وابسته است. انواع مختلف جامدات بلوری، بلورهای مایع و متامواد از جمله مواد ناهمسانگرد پرکاربرد در اپتیک و فوتونیک می باشند. از طرفی، امروزه بلورهای فوتونی به عنوان ساختارهایی که قابلیت کنترل انتشار
در این تحقیق، لایه های نازک اکسید لانتانیوم منگنز آلاییده با استرانسیوم به روش اسپری پایرولیزیز بر روی بسترهای si(100) و کوارتز آمورف تهیه شده است. نخست، با تغییر نوع محلول اولیه کلریدی و نیتراتی، دمای بستر و گرمادهی نمونه ها در محیط های هوا و آرگون و بررسی خواص ساختاری، شر
در این پایان نامه ویژگی های ساختاری، الکتریکی و مغناطیسی نمونه های کپه ای و لایه نازک منگنایتهای la0.85sr0.15mno3 و la0.85ca0.15mno3مورد بررسی قرار گرفته است. ویژگی های مغناطیسی نمونه کپه ای lsmo توسط پذیرفتاری مغناطیسی متناوب مورد بررسی قرار گرفت.لایه نشانی منگنایتهای la0.85sr0.
در سالیان اخیر، ذرات نانومتری به سبب خصوصیات منحصر به فردی که به واسطه ورود ابعادشان به مقیاس نانو بدست میآورند مورد توجه بسیاری از محققین قرار گرفتهاند. ویژگیهای خاص و متنوع نوری نانوذرات اکسید روی دلیلی بر تمایل به مطالعات گوناگون بر روی این ماده میباشد. بدین علت روشهای مختل
لایه اکسید نیکل آلاییده شده با سریم با استفاده از سل حاصل از دو پیش ماده استات نیکل شش آبه و هگزا نیترات آمونیم سریم با فرمول عمومی Ni1-eCexO بر روی لام شیشهای اعمال و در دماهای مختلف تا oC550 حرارت داده شد. مطالعات ساختاری نشان داد که لایههای پوشش داده شده از نانو بلورکهایاک
در تحقیق حاضر لایه نازک کربن آمورف گرافیتی به روش کندوپاش پرتو یونی بر زیرلایه شیشه انباشت شده است. تاثیر انرژی یون در محدوده گسترده از keV 8/1 تا keV 5 بر خواص نوری و ساختاری لایه نازک کربن آمورف بررسی شده است. نتایج بررسی خواص نوری و ساختاری به ترتیب با استفاده از طیفسنجی مرئی-
در این پژوهش، لایه نازک دی اکسید تیتانیوم آلاییده شده با وانادیوم با غلظتهای مختلف ( 5/1،0 و 5 درصد وزنی) به روش سل-ژل بر روی زیرلایههای شیشهای رسوب داده شد. خواص ساختاری، آنالیز عنصری، الکتریکی، اپتیکی و زبری سطح لایههای نازک به ترتیب توسط روشهای XRD، DES، LCR meter، طیف سن
در این پژوهش نانوذرات اکسید روی به همراه افزودنیهای Ti (10 درصد مولی) و Si (10 درصد مولی) به روش سل ژل سنتز شد. خواص نمونهها (SZ, TZ, STZ) در مقایسه با اکسید روی خالص (ZnO=Z) مورد بررسی قرار گرفت. روشهای XRD، SEM و UV-VIS برای بررسی فازهای کریستالی، مورفولوژی و اندازه ذرات، خو
لایههای نازکzn0.97tm0.03o (tm = co, fe) روی زیر لایههای شیشهای با روش سل-ژل رشد داده شدند و اثرات جاینشانی فلزات واسطه بر روی خواص ساختاری و اپتیکی لایههای zno مورد بررسی قرار گرفت. طیفهای حاصل از پراش پرتو x از نمونهها نشان داد که تمام لایهها دارای ساختار ورتسایت میباشند
بلورهای فوتونیکی سه بعدی یا نانوکلوییدها، به دلیل ساختار تناوبی که دارند دارای خواص نوری مفیدی چون هدایت نور و موجبری هستند. قرارگیری این نانوساختارها در میان فیلمهای پلیمری متشکل از چند لایه، موجب بهبود این خواص در مقایسه با فیلمهای تک لایه دارای ساختار نانو میشود. در این تح