اندازه گیری ویژگی های اپتیکی غیرخطّی لایه های نازک نانوساختاری مس و روی

Similar items

• اندازه‌گیری ویژگی‌های اپتیکی غیرخطّی لایه‌های نازک نانوساختاری مس و روی

  Article2013فیزیک کاربردیاسماء‌السادات معتمدی، عطاءالله کوهیان، فرشته حاج‌اسماعیل‌بیگی، مهسا اطمینان

  در این مقاله لایه­های نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده­ و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایه‌ها با استفاده از روش روبش- z اندازه­گیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش

• مطالعه خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی لایه های نازک اکسید روی آلایش شده با ناخالصی نیتروژن (ZnO:N) رشد یافته بر روی شیشه و لایه واسط ZnO به روش اسپری پایرولیزیز

  Article2015فیزیک کاربردیحسین عشقی، نرگس یاسین زاده

  لایه های نازک اکسید روی آلایش یافته با ناخالصی نیتروژن (ZnO:N) به روش اسپری پایرولیزیز بر روی شیشه و نیز لایه واسط اکسید روی خالص در دمای 0C450 به روش اسپری پایرولیزیز سنتز شدند. طیف XRD نمونه ها نشان دهنده رشد نمونه ها به صورت بس بلوری در فاز ششگوشی بوده در حالی که جهتگیری ترجیح

• مطالعه خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی لایه های نازک اکسید روی آلایش شده با ناخالصی نیتروژن (zno:n) رشد یافته بر روی شیشه و لایه واسط zno به روش اسپری پایرولیزیز

  Article2015مجله فیزیک کاربردینرگس یاسین زاده، حسین عشقی

  لایه های نازک اکسید روی آلایش یافته با ناخالصی نیتروژن (zno:n) به روش اسپری پایرولیزیز بر روی شیشه و نیز لایه واسط اکسید روی خالص در دمای 0c450 به روش اسپری پایرولیزیز سنتز شدند. طیف xrd نمونه ها نشان دهنده رشد نمونه ها به صورت بس بلوری در فاز ششگوشی بوده در حالی که جهتگیری ترجیح

• بررسی اثرِ دمای زیر لایه و بازپُخت بر خواصِّ ساختاری و اپتیکی لایه های نازکِ سلِنید روی رشد داده شده به روش تجزیۀ گرمایی افشانه ای

  Article2015مجله فیزیک کاربردیمونس ثابتی، محمد ابراهیم قاضی، مرتضی ایزدی فرد

  لایه­های نازکِ سلِنید روی بر روی زیر لایۀ شیشه­ای در دماهای زیر لایۀ ºc 380 و 400 به روش تجزیۀ گرمایی افشانه­ای لایه نشانی و سپس در دمای ºc400 بازپُخت شدند. ساختارِ نمونه­ها با استفاده از طیف­های xrd و خواصِّ اپتیکی آن ها با استفاده از طیف سنجی نوری uv-vis مورد مشخّصه یابی قرار گ

• بررسی اثرِ دمای زیر لایه و بازپُخت بر خواصِّ ساختاری و اپتیکی لایه‌های نازکِ سِلِنیدِ روی رشد داده شده به روشِ تجزیۀ گرمایی افشانه‌ای

  Article2015فیزیک کاربردیمحمد ابراهیم قاضی، مرتضی ایزدی فرد، مونس ثابتی

  لایه­های نازکِ سِلِنیدِ روی بر روی زیر لایۀ شیشه­ای در دماهای زیر لایۀ ºC 380 و 400 به روشِ تجزیۀ گرمایی افشانه­ای لایه نشانی و سپس در دمای ºC400 بازپُخت شدند. ساختارِ نمونه­ها با استفاده از طیف­های XRD و خواصِّ اپتیکی آن ها با استفاده از طیف سنجی نوری UV-Vis موردِ مشخّصه یابی قر

• اندازه گیری پویش آزاد میانگین الکترون در لایه های نازک ni و چند لایه ایهای نازک ni/cu از طریق مطالعه بستگی مقاومت الکتریکی به ضخامت لایه ها

  Articleپژوهش فیزیک ایرانغلامرضا نبیونی، gholamreza nabiyouni department of physics, university of arak, iranگروه فیزیک دانشگاه اراک

  در این کار ضمن ارایه یک مدل ریاضی برای محاسبه مقاومت ویژه لایه های نازک, تغییرات مقاومت الکتریکی ویژه بر حسب ضخامت برای تک لایه ایهای نازک ni و چند لایه ایهای نازک ni/cu مورد مطالعه قرار گرفت. لایه ها به روش الکتروانباشت از یک محلول الکترولیت شامل یونهای ni و cu رشد یافتند. ضخامت