مطالعه ترکیب درصد شیمیایی، ساختار و مورفولوژی لایه های نازک نانو بلور روی سولفید تهیه شده به روش انباشت شیمیایی برای تعیین مکانیسم رشد لایه
چکیده
چکیدهای برای این سند ثبت نشده است.
چکیدهای برای این سند ثبت نشده است.
در این کار، لایه های نازک نانو کریستالی روی سولفید آلاییده شده با نیکل به روش انباشت شیمیایی در محلول اسیدی ضعیف (6=ph) که شامل نمک اتیلن دی آمین تترا استیک اسید به عنوان عامل کمپلکس ساز و تیواستامید به عنوان منبعی از یون های سولفید است تهیه شده اند. اثر ضخامت، غلظت نیکل آلاییده
در این پروژه فیلم لایه نازک نانو ساختار اکسید روی و هیدروکسید روی بر روی اسلاید شیشه ای تحت تابش دهی مایکروویو به عنوان یک روش ساده و سریع تهیه شده است. همچنین به منظور بررسی اثر نقره بر روی خصوصیات فیزیکی و بیولوژیکی فیلم ها، فیلم اکسید روی/نقره و هیدروکسید روی/نقره بر روی اسلای
در این پژوهش فیلم های لایه نازک نانو ساختار روی اکسید حاوی نقره و روی اکسید فرونشانی فتوشیمیایی شده با نانو ذرات نقره روی بستر شیشه ای بوسیله فرایند سل-ژل و با استفاده از تکنیک های پوشش دهی چرخشی و غوطه وری تهیه شدند. برای تهیه سل روی اکسید حاوی نقره، از ترکیب سل روی اکسید و محلو
در سال های اخیر دی اکسیدتیتانیوم به دلیل کاربردهای وسیعی در قسمت های مختلف از جمله الکترونیک نوری، فعالیت های فوتوکاتالیستی، سلول های خورشیدی، کاربردهای الکتروکرومیک، ذخیره سازی هیدروژن و سنسورهای گازی مورد توجه قرار گرفته است. در این پایان نامه لایه های نازک نانو دی اکسیدتیتانیو
در این تحقیق ،لایه های نازک آلومینیوم اکسی نیترید بر روی زیر لایه هایی از جنس bk7 به روش کندوپاش مغناطیسی جریان متناوب انباشته شده اند. هدف از این مطالعات بررسی اثر نسبت گاز نیتروژن ، به عنوان گاز واکنشی و تاثیر دمای زیرآیند بر خواص اپتیکی، سختی، مرفولوژی سطح, آستانه تخریب لایه و
اکسید روی (ZnO) به عنوان ماده نیمه رسانا با شکاف نواری مستقیم و پهن، اهمیت زیادی در ساخت قطعات الکترونیکی مانند ترانزیستورهای اثر میدانی و قطعات اپتو الکترونیکی نظیر دیود های نور گسیل و همچنین آشکار سازی نوری دارد. در این پژوهش با استفاده از لایه نشانی به روش سل – ژل، پوشش های
در این تحقیق لایه نازک نانو ساختار اکسید روی دارای آلایش آلومینیوم و تیتانیم (atzo) به روش سل ژل تهیه گردید. آنالیز فازی توسط تکنیک پراش پرتو ایکس (xrd)، مشاهدات ریز ساختاری و آنالیز عنصری توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fe-sem) و ابزار طیف سنج تفکیک انرژی (edx) انجام
در این تحقیق لایه نازک نانو ساختار اکسید روی دارای آلایش آلومینیوم و تیتانیم (ATZO) به روش سلژل تهیه گردید. آنالیز فازی توسط تکنیک پراش پرتو ایکس (XRD)، مشاهدات ریز ساختاری و آنالیز عنصری توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FE-SEM) و ابزار طیف سنج تفکیک انرژی (EDX) انجام
در این پژوهش، لایه نازک دی اکسید تیتانیوم آلاییده شده با وانادیوم با غلظتهای مختلف ( 5/1،0 و 5 درصد وزنی) به روش سل-ژل بر روی زیرلایههای شیشهای رسوب داده شد. خواص ساختاری، آنالیز عنصری، الکتریکی، اپتیکی و زبری سطح لایههای نازک به ترتیب توسط روشهای XRD، DES، LCR meter، طیف سن
با توجه به اهمیت تهیه لایههای نازک نانوساختار نیمه هادیهای نوری گروه II-VI از طریق روشهای ارزان و ساده شیمیایی، در کار پژوهشی حاضر ضمن استفاده از روش لایه نشانی شیمیایی CBD، در راستای کنترل رشد چنین لایههایی، تاثیر غلظت عامل کمپلکسساز نمک آمونیوم بر خواص ساختاری و نوری لای
در این تحقیق، لایههای نازکی از سولفید روی دوپ شده با نقره (ZnS:Ag) با استفاده از روش کندوپاش مغناطیسی فرکانس رادیویی (RF) بر روی زیرلایههای شیشه لایه نشانی شدند. برای حصول لایه نازک بهینه، فشارهای کاری مختلف در محدود torr 3-10×5/1 تا torr 1-10×1 مورد بررسی قرار گرفتند. لایههای نا