بررسی خواص میکرو-نانوساختاری زیرلایه های سیلیکونی بمباران شده با یونهای هیدروژن
دانلود متن کاملرایگان، با حساب کاربری؛ ثبت نام با گوگل چند ثانیه است
چکیده
چکیده‌ای برای این سند ثبت نشده است.
پایان‌نامه‌های مشابه
مطالعه ی جذب و ذخیره سازی گاز طبیعی و هیدروژن توسط نانولوله های سیلیکونی، کربنی و سیلیکون کاربیدی از طریق شبیه سازی گرند کانونیکال مونت کارلو و مطالعه ی رسانش گرمایی و خواص انتقال گرما در نانونوارهای گرافنی از طریق شبیه سازی دینامیک مولکولی
انرژی برای زندگی امری حیاتی است و برای تأمین نیازهای اولیه ی انسان از قبیل تهیه ی خوراک، سرپناه، گرمایش و حمل و نقل کاملاً ضروری است. امروزه جوامع پیشرفته برای هر فعالیتی به انرژی وابسته هستند. تا به امروز، سوخت های فسیلی منابع اصلی انرژی بوده اند ولی دو مشکل اصلی در استفاده از ا
تاثیر دمای بازپخت و دمای زیرلایه روی خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی لایه های نازک دی اکسید قلع تهیه شده به روش بمباران الکترونی
در این تحقیق لایه های نازک به روش تبخیر با باریکه ی الکترونی در روی زیرلایه های شیشه ای تهیه شدند. این روش تبخیر حرارتی مزایایی بر روش های دیگر دارد. در این روش زیرلایه آسیب نمی بیند و از طرفی چون بعضی از مواد با چشمه حرارتی (بوته) شدیدا واکنش می دهند برای تبخیر موادی از این قبیل
ساخت و بررسی خواص ذخیره سازی هیدروژن در آلیاژ نانوساختاری پالادیم-نیکل برای پیلهای سوختی
در این پژوهش پالادیم، به منظور تحقیق اثرات روش های رسوبگیری به صورت الکتروشیمیایی در ظرفیت ذخیره سازی هیدروژن، به روش های گالوانواستاتیک، پتانسیواستاتیک و پتانسیودینامیک بر روی سطح الکترود فولاد زنگ نزن رسوب گیری شده است. مقدار هیدروژن جذب شده از طریق روش های پتانسیودینامیک و اسپ
اسناد مشابه
تاثیر دمای زیرلایه بر روی خواص نانوساختاری لایه نیترید زیرکونیوم
در این تحقیق تاثیر دمای زیر لایه در محدودهc˚450-100 برخواص ساختاری لایه های نیترید زیرکونیوم که به روش کندوپاش شعاع یونی روی زیر لایه شیشه وسیلیکون تهیه شده است، مورد بررسی قرار گرفته است. تعین ضخامت لایه ها با استفاده از آنالیز rbs (طیف پس پراکندگی رادرفورد) و تعیین فازهای کریست
تاثیر دمای زیرلایه بر روی خواص نانوساختاری لایه نیترید زیرکونیوم
در این تحقیق تاثیر دمای زیر لایه در محدودهC˚450-100 برخواص ساختاری لایه‌های نیترید زیرکونیوم‌که به‌روش کندوپاش شعاع یونی روی زیر لایه شیشه وسیلیکون تهیه شده‌است، مورد‌بررسی قرار گرفته‌است. تعین ضخامت لایه‌ها با‌استفاده از آنالیز RBS (طیف پس پراکندگی رادرفورد) و‌تعیین فازهای کریست