بررسی تأثیر خطای تک رخدادی بر روی مدار حلقه قفل فاز و طراحی ساختار مقاوم در برابر تابش
چکیده
ناپایداری های تک رخدادی (sets) به علت افزایش فزاینده ی کوچک سازی قطعات، کاهش منبع تغذیه و افزایش فرکانس عملیاتی، برای سیستم های سیگنال مختلط مسئله ی بسیار مهمی شده است. برای مقابله با setها، اغلب سخت کنندگی تابشی برای افزایش اتکاء پذیری سیستم های سیگنال مختلط استفاده می شود. در کاربردهای فضایی، کارایی حلقه قفل فاز (pll) بدلیل تأثیر تابش کاهش می یابد. با افزایش تعداد مدارهای سیگنال مختلط، استفاده از روش های یکپارچه ای برای اعتبارسنجی کلی قسمت های دیجیتال و آنالوگ الزامی است. در این پایان نامه، امکان تزریق اشکال های گذرا در قسمت های مختلف مورد ارزیابی قرار می گیرد. یکی از اهداف این پایان نامه، مقایسه آنالیز سطح بالا و سطح spice برای تزریق اشکال های شبه set در مدار مختلط آنالوگ- دیجیتال pll است. مزایا و معایب ارزیابی و همچنین دقت مدلسازی سطح بالا نسبت سطح پایین تأثیر ناپایداری ها برای نمونه ای از ذرات پرانرژی مورد ارزیابی قرار می گیرد. در این پایان نامه ساختار سخت کننده ای پیشنهاد می شود که می تواند کاملاً خطاهای نرم ناشی از پرتوهای کیهانی را حذف کند. این تکنیک نرخ خطای نرم را با کمترین تأثیر بر روی روند طراحی و کارایی مدار، در مدارهای میکروالکترونیک مدرن کاهش می دهد. همچنین در این پایان نامه ابعاد مختلفی از مدار pll مقاوم از قبیل تأثیرات تابش، تکنیک های سخت کننده، بلوک های تشکیل دهنده pll و عملکرد pll بررسی می شوند.