مطالعه اثر دما روی خواص اپتیکی لایه های نازک مس و نقره به روشهای بیضی سنجی و کریمز-کرونیگ
چکیده
در این پروژه اثر دمای زیرلایه هنگام لایه نشانی روی ثابتهای اپتیکی لایه های نازک cu و ag در بازه طول موج(2600nm - 200 ) بررسی شده اند. در این پروژه از دو روش برای اندازه گیری ثابتهای اپتیکی نمونه ها استفاده شد. اولین روش ، روش کریمرز- کرونیگ است که با استفاده از داده های تجربی بازتابندگی تحت تابش عمودی در بازه پهنی از طول موج، ثابتهای اپتیکی اندازه گیری می شوند. دومین روش روش بیضی سنجی است . در این روش از این حقیقت که نور قطبیده تخت پس از برخورد با سطح نمونه در حالت کلی به صورت قطبیده بیضوی برمی گردد استفاده شده و با اندازه گیری پارامترهای بیضی قطبیدگی(نسبت قطرها و سمتگیری بیضی) باریکه بازتابیده از سطح نمونه و ارتباط برقرار کردن ثابتهای اپتیکی نمونه با این پارامترها ثابتهای اپتیکی نمونه اندازه گیری شده اند.