اکتشاف ساختارهای زمین شناسی با روش vlf
چکیده
روش vlf یکی از روشهای شناخته شده در ژئوفیزیک و زیرمجموعه روشهای الکترومغناطیسی است. در این روش، یک فرستنده در فاصله دور امواج کروی الکترومغناطیسی در گستره فرکانسی 15 تا 25 کیلوهرتز تولید می کند و در فاصله دور این امواج کروی به امواج تخت تبدیل می شوند. این امواج دارای مولفه های الکتریکی و مغناطیسی هستند ولی در اکتشاف به روش vlf فقط مولفه مغناطیسی به کار می آید. مولفه مغناطیسی میدان الکترومغناطیسی در زمین نفوذ می کند و در رساناهای زیر زمین جریان الکتریکی القاء میکند. این جریان الکتریکی به نوبه خود یک میدان مغناطیسی ثانویه تولید می کند و دستگاه اندازه گیری، نسبت میدان ثانویه تولید شده در توده رسانای زیر زمین به میدان اولیه تولید شده در فرستنده را اندازه می گیرد. با مقایسه داده های اندازه گیری شده در نقاط مختلف یک ناحیه میتوان تغییرات رسانایی در زیر آن ناحیه را تشخیص داد. امواج الکترومغناطیس با فرکانسهای مختلف هر یک تا عمق خاصی از زمین را مورد کاوش قرار میدهد بنابراین می توان با اندازه گیری در بیش از یک فرکانس اطلاعات کاملتری از زمین در زیر ایستگاههای اندازه گیری بدست آورد. از آنجا که اکثر ذخایر معدنی مدفون در زیر سطح زمین به وسیله یک روبار پوشیده شده اند،کشف این ذخایر به خواصی که آنها را از محیط اطراف متمایز میکند بستگی دارد. با توجه به اینکه در روش vlf نیاز به فرستنده نداریم و فقط گیرنده لازم است و همچنین گیرنده در فاصله ای بسیار دور قرار دارد و تفسیر داده های اندازه گیری شده ساده خواهند بود. از سوی دیگر چون نیاز به تماس گیرنده با زمین نداریم و در حقیقت اندازه گیری ها از طریق القاء الکترومغناطیسی صورت می گیرد، سرعت اندازه گیری ها بسیار بالا خواهد بود. به همین دلیل شناسایی محل هایی که در آنجا توده های رسانا وجود دارند به سرعت انجام می گیرد که این امر اهمیت زیادی در بحث اکتشافات ژئوفیزیکی دارد. بنابراین این روش اکتشافی بیشتر برای تعیین محل و گستردگی تودهای رسانا کاربرد دارد. در این پایان نامه هم ما میخواهیم که با اندازه گیری با روش vlf در چندین ایستگاه اندازه گیری در یک منطقه، وجود توده یا توده های رسانا و نیز گسترش تقریبی آنها را بدست آوریم .