پایان‌نامه

طراحی حافظه استاتیکی با ولتاژ خیلی کم و مقاوم در برابر خطای نرم

چکیده

با پیشرفت تکنولوژی و به وجود آمدن سلول های حافظه ایستای جاسازی شده (sram)، این سلول ها به دلیل سرعت بسیار بالا و هزینه ی ساختِ کم، تبدیل به رایج ترین حافظه های مورد استفاده در بازار گردیدند. از طرف دیگر با افزایش تعداد ترانزیستورها در آرایه های sram و نیز افزایش جریان نشتی ترانزیستورها در تکنولوژی های با ابعاد کوچک ، توان مصرفی نیز افزایش می یابد. به علاوه فرایند کاهش ولتاژ منبع تغذیه برای جبرانِ کاهش مصرف توان، پایداری داده ی سلولِ sram را به خطر می اندازد؛ کاهش ابعاد قطعات نیز اثر تغییرات فرآیند بر روی سلول را افزایش می یابد. موضوع دیگری که باید به آن اشاره کرد اثرِ خطاهای مخربی چون خطای نرم می باشد که با کوچکتر شدن ابعاد قطعات، افزایش چشمگیری می یابد و در نتیجه طراحی مدارات مقاوم و کم توان یکی از مسائل مهم در عرصه الکترونیک دیجیتال به شمار می رود. در این پایان نامه ابتدا به بیان مفاهیم کلی خطای نرم پرداخته می شود، سپس اثرات آن و نیز روش های پایه کاهش توان مصرفی در سلول های sram مورد بررسی قرار گرفته و در نهایت با در نظر گرفتن این موارد یک سلول sram با 13 ترانزیستور پیشنهاد می گردد. این سلول شامل هسته ی 10 ترانزیستوری با مسیر خواندن و نوشتن جداگانه به منظور افزایش پایداری سلول و نیز کاهش توان دینامیکی می باشد. به علاوه برای افزایش قدرت جمع آوری بار و افزایش مقاومت سلول در برابر خطای نرم، 2 ترانزیستور به هسته اصلی الحاق شده است. همچنین به منظور کاهش توان نشتی در مقایسه با سلول sram 6 ترانزیستوری، از یک ترانزیستور با یک سیگنال کنترلی استفاده شده است. در حقیقت توان مصرفی سلول پیشنهادی در دمای 27 درجه سانتیگراد، نسبت سلول 3/1 و ولتاژ تغذیه 8/0 ولت، برابر با 71/3 میکروووات است؛ درحالیکه در شرایط آزمایشگاهی یکسان توان مصرفی سلول sram 6 ترانزیستوری استاندارد برابر با 28/5 میکرووات، توان مصرفی سلول sram 18 ترانزیستوری برابر با 41/9 میکرووات و توان مصرفی سلول sram kim برابر با 19/5 میکرووات است که نسبت به سلول های گفته شده به ترتیب 25/31%، 42/61%، و 01/30% کاهش نشان می دهد. علاوه بر بهبود در توانِ مصرفی، مقاومت سلول پیشنهادی نیز در مقابل خطای نرم در مقایسه با سلول های sram t6 و kim و verma به ترتیب 1/47%، 6/30%، و 2/25% بهبود می یابد. همچنین می توان بار بحرانی سلول پیشنهادی را با افزودن خازن به آن به منظور افزایش ظرفیت خازنی، افزایش داد. در نتیجه با توجه به مقادیر بدست آمده واضح است که سلول 13 ترانزیستوری پیشنهاد شده در مقایسه با دیگر سلول ها برتری محسوسی دارد.

اساتید راهنما و مشاور

راهبه نیارکی

پایان‌نامه‌های مشابه

  • طراحی المان های ترتیبی مقاوم در برابر خطای نرم در مدارهای دیجیتال

    پایان‌نامه۲۰۱۴وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه کاشان - دانشکده مهندسی برق و کامپیوترعلی اصغر سعادت زاده

    تحقیقات نشان می¬دهد اشکالات گذرا در سیستم¬های دیجیتال بسیار رایج بوده وغیر قابل اجتناب است. این اشکالات ممکن است توسط نوسانات منبع تغذیه، برخورد نوترون¬های ساطع¬شده از اشعه کیهانی و یا ذرات آلفا صورت گیرد. در این میان، برخورد ذرات پرانرژی ساطع¬شده از اشعه کیهانی برای سیستم¬های دی

  • طراحی یک ریزپردازنده قابل یکربندی مجدد و مقاوم در برابر خطای نرم

    پایان‌نامه۲۰۱۳وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه تحصیلات تکمیلی صنعتی کرمان - دانشکده برق و کامپیوترعلی آقاسی کرمانی

    قابلیت تغییر ساختار پردازنده ها در زمان اجرا، راه حلی موثر جهت ترکیب کارآیی بالای تراشه های خاص منظوره با قابلیت انعطاف پردازنده های همه منظوره می باشد. پردازنده هایی که می توانند پایان عمر پردازش بر مبنای سیلیکون را چند سال دیگر به تعویق اندازند. یکی از مهمترین بسترهای پیاده ساز

  • بررسی تأثیر خطای تک رخدادی بر روی مدار حلقه قفل فاز و طراحی ساختار مقاوم در برابر تابش

    پایان‌نامه۲۰۱۰وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه رازی - دانشکده فنی و مهندسیاحسان عسکری

    ناپایداری های تک رخدادی (sets) به علت افزایش فزاینده ی کوچک سازی قطعات، کاهش منبع تغذیه و افزایش فرکانس عملیاتی، برای سیستم های سیگنال مختلط مسئله ی بسیار مهمی شده است. برای مقابله با setها، اغلب سخت کنندگی تابشی برای افزایش اتکاء پذیری سیستم های سیگنال مختلط استفاده می شود. در ک

اسناد مشابه